1. 在測容性負（fù）載阻值時，絕（jué）緣電阻測試儀輸出短路電流（liú）大小與測量數據有什麽關係，為什麽?
    絕（jué）緣電阻測試儀輸出短路電流（liú）的大小可反映出該兆歐表內部輸出高（gāo）壓（yā）源內阻的大小。當被測試（shì）品存在電容量時，在測試過程的開始階段，絕緣電阻測試儀內的高壓源要通過其內阻向該電容充電，並逐步將電壓（yā）充（chōng）到絕緣（yuán）電阻測試儀的輸出額定高壓值。顯然，如果試（shì）品的電容量值（zhí）很大，或高壓（yā）源內阻（zǔ）很大，這一充電過程的耗時就會加長。全自動變比組別測試儀，用變比（bǐ）電（diàn）橋測（cè）量變壓器（qì）的（de）變比，操作過程繁瑣，測量範圍狹窄，已經不（bú）適應現代測量的快（kuài）節奏、高效率的要求。其（qí）長度可由R內和（hé）C負載的乘積（jī）決定（單位為秒）。請注意，給電容充（chōng）電的電流與被測試品絕（jué）緣電阻上流過的電流，在測試中是一起流入絕緣電阻測試（shì）儀內的。絕緣電阻測試儀測得的電流不（bú）僅有絕緣電阻（zǔ）上（shàng）的分量，也加入了電容充電電流分量，這時測得的阻值將偏小。
   如：額定電壓為5000V的絕（jué）緣電阻測（cè）試（shì）儀，若其短路輸出電（diàn）流（liú）為80μA(日本共立產)，其內（nèi）阻為5000V/80μA＝62MΩ
   如：試（shì）品容量為0.15μF，則時間常數τ=62MΩ×0.15μF≈9 (秒)即在（zài）18秒時刻，電容上的充電電流仍有11.3μA。
   由（yóu）此（cǐ）可見，僅由充電電流而形成的等效電（diàn）阻為（wéi）5000V/11.3μA＝442MΩ,若正常絕緣為1000MΩ，則（zé）顯示的（de）測得絕緣值僅為306MΩ。這種試值已不能反映絕緣值的真實狀況（kuàng）了，而且試值主要是隨容性負載（zǎi）容量的變化而改變（biàn），即（jí）容量小，測試阻值大；容量大，測試阻值小。
   所以，為保障準確測得R15s，R60s的試值，應選用充電速度快的大容量絕緣電阻測試儀。我國的（de）相關（guān）規程（chéng）要求絕緣電阻測（cè）試儀輸出短（duǎn）路電流（liú）應大於0.5mA、1 mA、2 mA、5 mA，要求高的場合應盡量（liàng）選擇輸出短（duǎn）路電流較（jiào）大的絕緣電阻（zǔ）測（cè）試儀。
   2. 為什麽測絕緣時，不但要求測單純的阻值，而且還要求測吸收比，極化指數，有（yǒu）什麽意義（yì）？
   在絕緣測試中，某一個時刻的絕緣（yuán）電阻（zǔ）值是不能全麵反映試品絕緣性能的優劣的，這是由於以下（xià）兩方麵原因，一方麵，同樣性能的絕緣（yuán）材料，體積大時呈現的絕緣電阻小，體積小時呈（chéng）現的絕緣電阻大。另一方麵，絕緣材料在加上高壓後均存在對電荷的吸收比過程（chéng）和極化過程。 所以，電力係統要求在主變壓器、電纜、電機等許多場（chǎng）合的絕緣測（cè）試中應測量吸收比-即R60s和（hé）R15s的比值，和極化指數-即R10min和（hé）R1min 比值，並以此數據來判定絕（jué）緣（yuán）狀況的優劣。 
   3. 高阻絕緣測試儀容量檢（jiǎn）查方法（kyoritsu3005A、kyoritsu3005A、kyoritsu3125）
   1、請（qǐng）按（àn）如下接線圖（tú）測量，便可鑒別你所有的絕緣測試儀表測量的結果是否準確：
   C為0.1μ/6.3kV電容，請用CBB品質的，因它自身（shēn）不會被極化，且（qiě）吸收電荷（hé）極少（shǎo）；R為（wéi）5000MΩ/5kV的電阻。 當測量時（shí）間為15秒時，儀器顯示應為R15s＞4750 MΩ(因有電容C存在，所以（yǐ）被測阻值（zhí）要（yào）比標稱值小5%);當測量時間為60秒時，儀器顯示應為R60s=5000MΩ，吸收比應（yīng）為R60s/R15s≤1.05。
   說（shuō）明：1、第（dì）15秒時，儀器向（xiàng）電容C充電的電流越小，表示儀（yí）器的充電（diàn）能力越強，吸收比就越趨於"1"。在現場測試的吸（xī）收比才越正確。
   2、上述測試方（fāng）法是我公司（sī）提出的，且（qiě）被寫入由我公司參（cān）與起草編寫的"中華人民共（gòng）和國電力行業標準""電子（zǐ）絕緣電阻測試儀技術標準"內。
   4． 在高壓高阻的測試環境中，為（wéi）什麽要（yào）求儀表接（jiē）"G"端連線？
在被測試品兩端加上較高的額定電壓，且絕緣阻值（zhí）較高時，被測（cè）試品表麵（miàn）受潮濕，汙染引起的泄漏較（jiào）大，示（shì）值誤差就大，而儀表（biǎo）"G"端是將被測試（shì）品表麵泄漏的電流旁路（lù），使泄漏電流不經（jīng）過儀表的測（cè）試回（huí）路，消（xiāo）除泄漏電流引起的誤差。
   5．在校測某些型號絕緣儀表"L"、"E"兩端額定輸出直流高壓時，用指針式萬用表DCV檔測L、E兩端電壓，為什麽電壓會跌落很多（duō），而數字式萬用表則不會？
用普通的指針（zhēn）式萬用表直（zhí）接在絕緣（yuán）電阻測（cè）試儀"L"、"E"兩端測量其輸出的額定直流電壓，測量結（jié）果與標稱的額定電壓值要小很多（超出（chū）誤差範圍），而用數字萬用表則不（bú）會。這是因為指針式萬（wàn）用表內阻較小，而數字萬用表內阻相對較大。指針式萬用（yòng）表內阻較小，絕緣電阻測試儀L-E端輸出電壓降低（dī）很多，不是正常工作（zuò）時的輸出電壓（yā）。但是，用萬用表直接去測絕緣電阻測試儀（yí）的輸出電壓是錯誤的，應當用內阻阻抗較大的靜（jìng）電高壓表（biǎo）或用分壓器等（děng）負載電阻足夠大的方式去測量。
   6．能不能用兆歐表直（zhí）接測帶電的被測試品，結果有什麽影響，為什麽？
為了人（rén）身安全和正常測試，原則上是不允許測量帶電的（de）被測試品，若要測量帶電被測試品，不（bú）會對儀表（biǎo）造成（chéng）損壞（短（duǎn）時間內（nèi）），但測試結果是不準確的，因為帶電（diàn）後，被測試品便與其它試品連結在一（yī）起，所以得出的結果不能真實的反映實際數據（jù），而（ér）是與其它試品一起的並聯或串聯阻值。 
   7．為什麽電子式絕緣電阻測試儀幾（jǐ）節電池供電能產生較高的直流高壓（yā）?
這是根據直流變換（huàn）原理，經過升壓電路處（chù）理使較（jiào）低的供電（diàn）電壓提升到較高的輸出直流電壓，產生的高壓雖然較高但輸出功率較小。（如電警棍幾節電池能產生幾萬伏的（de）高壓）
   8．用絕緣電阻測試儀測量絕緣電（diàn）阻時，有哪些因素會造成測量數據不準確，為什麽？
   A） 電池（chí）電壓不足。電池電壓欠壓過低，造成電路不能正常工（gōng）作，所以測出的讀數是不準確的。
   B） 測試（shì）線（xiàn）接法不正確。誤將（jiāng）"L"、"G"、"E"三端接線接錯（cuò），或將"G"、"L"連線"G"、"E"連線接在被測（cè）試品兩端。
   C） "G"端連線未接。被測試品由於受汙染潮濕等因素造成電流泄漏引起的（de）誤差，造成測試不準確，此時必須接好"G"端連線防止泄漏電流引起誤差。
   D） 幹擾過大。如果被測試品受環境（jìng）電磁幹擾過大（dà），造成儀表讀數跳動。或指針晃動。造成讀數不準確。
   E） 人為讀數錯誤。在用指針式絕緣電阻測試儀測量時，由於（yú）人為視角誤差（chà）或標（biāo）度尺誤差造（zào）成示值不準確。
   F） 儀表誤差。儀表本身（shēn）誤差過大，需要重（chóng）新校對。
   9．KD2678與ZC-37有什麽區別，KD2678是如何消除匯水管與機座間（jiān）泄漏所引起的誤差?測（cè）水內冷（lěng）發電機絕緣電阻前有哪些 準備工作？發電機繞阻有哪幾種接線測試方法（fǎ）？
   KD2678表要求匯水管機座的阻值大於3kΩ，水阻大於80kΩ測量範圍為10000MΩ，讀數采用指針式和數字顯示兩種方（fāng）式，自（zì）動計時，自動顯示和儲存R15s、R60s、R10min、R60s/R15s、R10min/R1min的讀數（shù），無需對水極（jí）化電勢補償調節，雙刻度量程自（zì）動轉換，對（duì）數刻度讀數，可顯示（shì）輸出電壓與環（huán）境溫度，可用Rt鍵精確讀取任一時刻電阻值（數字顯示）。可對被測試品自動放電。
   而ZC-37表，要求匯（huì）水管對機座的阻值大於（yú）30kΩ，水阻大於100kΩ，測量範圍為1000MΩ，讀數采（cǎi）用（yòng）指針式顯示，人（rén）工計時（shí），需在測試前人工對匯水管泄（xiè）漏電流補償調節，測試（shì）中水極（jí）化電（diàn）勢無法調節（jiē），人工對被（bèi）測（cè）試品放電。
KD2678表是采用等電位法來消除匯水管泄漏誤差的，由電路自動調節使（shǐ）匯水管接（jiē）口端與E端（機座）等電位，使流經匯水管法（fǎ）蘭盤向（xiàng）機座的電流為零，匯水（shuǐ）管測試線采用電流、電壓雙（shuāng）線來消除匯水管（guǎn）引線電阻引起的誤差。
   KD2678表測水內發電（diàn）機（jī）絕緣電阻之前準備工作：（1）首先斷開發電機所帶負載。（2）將匯水管法蘭盤上（shàng）、下連接（jiē）褡扣斷開，並用導（dǎo）線將法蘭盤上端短接（jiē）在一起，用KD2678專用匯水管線夾在短接處。（3）用數字萬用表電阻檔測匯水管與機座之間的絕（jué）緣阻（zǔ）值（≥3kΩ）測匯水管與繞組的（de）阻值（zhí）(≥80kΩ)。
   10.高阻絕緣表現場測容性負載（zǎi）時（shí）（如主變），指針顯示阻值在某（mǒu）一區間突然跌落（不是（shì）正（zhèng）常測試時的大值區間內（nèi）的緩慢小幅擺動），快速來回擺動，是什麽原因（yīn）？
　　造成該現象主要是（shì）試驗係統（tǒng）內某部位出現放電打火。 絕緣表向容性被測試品充（chōng）電中，當（dāng）容性（xìng）試品被（bèi）充至一定（dìng）電壓時，如果儀表內部測試線（xiàn）或被測試品中任一部位有擊（jī）穿放電（diàn）打火，就會出現上述現象。判（pàn）別辦法： （1）儀（yí）表測試（shì）座不接入測試線，開啟電源和高壓（yā），看儀表內是否有（yǒu）打火現象發生（若（ruò）有打火（huǒ）可（kě）聽到放電打火聲）。（2）接上L、G、E測（cè）試線，不接被測試品，L測試線末端線夾懸（xuán）空，開啟高壓，看測試導（dǎo）線是否有打火現象發生。若有（yǒu）打火現象，則檢查：a）L、G測試線芯線（L端）與（yǔ）裸露在外的（de）線（G端）是否過近，產生拉弧打火。b）L端芯線插頭與測試座屏蔽環或（huò）測試夾子與被測試品接（jiē）觸不良造成打火。c）測試線（xiàn）與插頭、夾子之間虛焊斷路，造成間（jiān）隙放（fàng）電。 (3)接（jiē）入被測試品，檢查末端線夾與（yǔ）試品接觸點附近有（yǒu）無放電打火。 (4)排除以上原因，接好被測試品，開啟高壓，若儀表仍有上述現象則說明被測試（shì）品絕緣擊穿造成局部放電或拉弧。
    11.為什麽不（bú）同絕（jué）緣（yuán）電阻測（cè）試儀測出示值存在差（chà）異？
　　由於高壓絕緣電阻測試儀測試電源非理想電壓源，內阻Ri不同測量回路串接電（diàn）阻（zǔ）Rm不同（tóng），動態測量（liàng）準確度不同，以及現場測量操作的不合（hé）理或失誤等（děng），不同型號絕緣電阻測試（shì）儀對同一（yī）被測試品（pǐn）的測量結果會存在差異。實際測量時，應結合絕緣電（diàn）阻測試儀（yí）絕緣試驗條件的特殊性盡量降（jiàng）低可能出現的各種測量（liàng）誤差：

   （1） 不同型（xíng）號的絕緣表（biǎo）測量同一試品時， 應采用相同的電（diàn）壓等級和接線方法。例如在測量電力變壓器（qì）高壓繞組絕緣中，當繞組引（yǐn）出端始（shǐ）終接絕緣電阻測試（shì）儀L端鈕時，就有： E端鈕接低壓（yā）繞組和外殼，而G端鈕（niǔ）懸空的直接法； E端鈕（niǔ）接低壓繞組，而G端鈕接外殼的外殼屏蔽法（低電位屏蔽）；G端鈕接在高壓繞組套管的表麵，而E端（duān）鈕先接低壓繞組，然後分別再和外殼相連或不相連的兩種套管屏蔽法（高電位屏（píng）蔽）。 E端鈕接外殼，而G端鈕接低壓繞組（zǔ）等接線方法。 不同結構、製式（shì）的絕緣電阻測試儀，G端鈕電位不同，G端鈕在套管表麵的安放位置也應隨之改變。（KD2677為低電位屏蔽，即G端鈕為低電位）。

   （2） 不同型號（hào）絕緣電阻測試儀的量程和示值的（de）刻度方法不同，刻度分辨力不同，測量準確度等級不同，都會引起示值間的差異。為了保證對（duì）電力設備的準確測量，應避免選（xuǎn）用準確度低，使用不（bú）方便的搖表。

   （3） 試品大多含（hán）容性分量（liàng），並存在介質極化現象，即使測試條件相同也（yě）難以獲得理想的數據重複性。

   （4） 測量時，絕緣介質的溫度和油溫應與環境溫度一致，一般允（yǔn）許相差±5%。

   （5） 應在特定時間段的（de）允許時間差範圍內，盡快地讀取測量（liàng）值。為使測量誤差（chà）不高於±5%，讀取R60S的時間允許誤差±3S，而讀取R15S的時間不應相差±1S。

   （6） 高壓測試電源非理想電壓源，重負荷（被測試品絕緣電阻值小）時，輸（shū）出電壓（yā）低於其額定（dìng）值，這將導致單支路（lù）直讀測量法絕（jué）緣電阻測試儀測量準（zhǔn）確度（dù）因（yīn）轉換係數的改變而降低。這種改變因絕緣電阻測試儀測試電源負荷特性不同而異（yì）。

   （7） 不同動態測試容量指標的絕緣電阻（zǔ）測試儀，試驗電壓在試品上（及采樣電阻（zǔ）上）的建立過程與對試品的充電能力均存在差異，測量結果也會不同，使用低於動態測試容（róng）量指標門限值的絕（jué）緣電阻測試儀測量時，由於儀表存在慣性網絡（包（bāo）括指針式儀表的機械慣性）導致示值響應速度較慢，來不（bú）及正確反映試品（pǐn）實在（zài）絕緣電阻值隨時（shí）間的變（biàn）化規律，尤其是在測試的起始階段，電容充電電流未完全衰減為零，更會使R15S和吸收比讀測值產生較大（dà）誤差（偏（piān）小）。

   （8） 試品絕緣介質極化狀況與外加試驗電壓大小有關。由於（yú）試（shì）驗電壓不能迅速達（dá）到額定值，或因絕緣電（diàn）阻測試儀測試電源負荷（hé）特性（xìng）不同導致（zhì）施加於試品上（shàng）試驗電壓的差（chà）異，使試（shì）品初始極（jí）化狀況不同，導致吸收電流不同，使緣電阻測量的示值（zhí）不同。

   （9） 國外（wài）某些絕緣電阻測試儀的試驗高電壓連續可調，開機後先由零調節至額定值。絕緣（yuán）電阻測試（shì）儀讀數起始時間的不確定性，以及高（gāo）壓達到額定值（zhí）時間的不確定性，使試品初始極化不（bú）同，也將引（yǐn）起示值間的差別。

   （10） 不同絕緣電阻測試儀現（xiàn）場幹擾的敏感度和抵禦（yù）能（néng）力不同，對同一試品的讀測值會存在差異（yì）。

   （11） 數據隨機起伏的常規測量（liàng）誤差和絕緣電阻測試儀方法（fǎ）誤差不同等引起示值間（jiān）的（de）差異。

   （12）介質放電不充分是重複測（cè）量結果存在差異（yì）的重要原因之（zhī）一。據試品充電（diàn）吸收電（diàn）流與其反向放電電流對應（yīng）和可逆的（de）特點，若需對同一試（shì）品進行第二次重複（fù）測量，首次（cì）測量結束後的試品短路放電間歇時間一般應長（zhǎng）於測量時間，以（yǐ）放盡所積聚（jù）的吸收電荷量，使試品絕緣介質充分恢複（fù）到原先無（wú）極化狀（zhuàng）態，否則將影響第二次測量數據的準確度。為使被試（shì）品上無剩餘電荷，每一次試驗前也應該將測量端對地短路放電，有時甚（shèn）至需時近1小時，並應拆（chāi）除與無關設（shè）備間的聯線。總之，同一試（shì）品不同時（shí）期的絕緣測量，應采用相同的試驗電壓等（děng）級和接線方法，並盡可能使用同一型（xíng）號或性能相近的絕（jué）緣電阻表，以保證測量數據的可比性。

   （13） 還（hái）應特別強調選（xuǎn）用（yòng）動態測量準確度（dù）較低和高（gāo）壓測試電源容量較低的儀表，由於電容充電電流（liú）尚（shàng）未完全衰減為零，以及儀表示值（zhí）不能準確地實時跟（gēn）隨試品視在絕緣（yuán）電阻值的變化，讀測R15S阻值偏低（dī），出現較大誤差，導（dǎo）致試品吸收比測試值虛假偏高，應引起測試人員特別（bié）重（chóng）視。這也可能是各（gè）種型號高壓絕緣電阻測試儀測量同一試品時吸收比讀測值存在差異（yì）的主（zhǔ）要原因。由此也說（shuō）明吸收比判比指標（biāo）不及極化指數科學和客觀。
    12.高壓絕緣電阻測試儀的選型
　  用戶可以根據試品特（tè）性和（hé）試驗規程要（yào）求選擇適用的高壓（yā）絕緣電阻測（cè）試儀，選型的（de）原（yuán）則（zé）主（zhǔ）要是絕（jué）緣電阻測（cè）試儀試驗電壓等級，輸出短路電流和量程（chéng）範圍符合規程要求，較高的（de）動態測量準確度和抗（kàng）現場幹擾能力，使用安全方（fāng）便（biàn），較好的性價比等。根據測試對象和要求不同，絕緣電阻測試（shì）儀大致可以劃分為普及型、主導型、和專用型三種，根據電力設備預防和交接（jiē）試驗規程，用於測（cè）量試品絕緣電阻的普及型絕緣電阻測（cè）試儀試（shì）驗電壓（yā）等級500V，1000V。 主導型絕緣電阻（zǔ）測（cè）試（shì）儀主要（yào）測量試品的絕緣電阻（zǔ），吸收比或（huò）極化（huà）指數（shù），電（diàn）壓等級為2500V，5000V。專用型絕緣電阻測試（shì）儀用於測量同步發電機，直流電（diàn）機（jī），交流（liú）電動機等繞組的絕（jué）緣電阻、吸收比和極化指數。有時還要求測量或（huò）測（cè）算真實（shí）絕緣電阻值。對於容（róng）性（xìng）負載較大的試品，一（yī）般選用合適的電壓等級和足夠大的輸出短路電流、絕緣值量程（chéng）範圍大、自動（dòng）對被測（cè）試品放電的絕緣電（diàn）阻測試儀，否則R15S阻值（zhí）將會影響較大，而（ér）使吸收比測（cè）試結果出（chū）現較大的誤差（chà）。對於幹擾較強的測試（shì）現場，應選用指針式絕（jué）緣電阻測試儀，因為選用數字顯示的絕緣電阻測試儀，其測量數據有較大的跳動（dòng），從而無法確（què）認真實的阻值。